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Diffraction et réflectométrie de rayons X

Responsable :

Arie VAN DER LEE

Tel : 04 67 14 91 35

Courriel : arie.van-der-lee@umontpellier.fr

Prestations :

- Réflectométrie de rayons-X :

  • analyse de la densité/épaisseur/rugosité des couches minces

- Diffraction de rayons-X sur poudre/mono-cristal/couches minces :

  • identification des phases cristallines
  • détermination de la structure atomique d’une phase cristalline
  • mesures sous pression/contraintes/basse et haute température/UV

Appareillages

Gemini-S (Agilent Technologies)

Gemini-S (Agilent Technologie)
Diffractomètre pour l’analyse quantitative sur monocristal

Bruker D5000

Diffractomètre pour l’analyse quantitative sur poudre et couches minces. Réflectométrie à l’air ou sous atmosphère controlée.

X'pert Pro (Pan Analytical)

X’pert Pro (Pan Analytical)
Diffraction classique sur poudres pour l’analyse des phases et pour l’analyse quantitative (affinement Rietveld).